引起生出智低患儿的常见因素
来源：曲靖五洲妇产医院
在现在，人们对下一代的智力发育尤其重视。智能发育不全是指在胚胎或出生以后，由于各种原因造成中枢神经系统发育障碍，以智能障碍为主要特征的一组疾病。病因比较复杂，引起生出智低患儿的常见因素 常见的有如下几个方面：
胎内因素：母亲在妊娠早期曾患某些过敏性疾病，病毒感染，放射线照射，妊娠毒血症等都可以影响胎儿发育。因此孕妇应注意孕期卫生，在孕期防止各种可造成不利于胎儿的有害因素。
出生后因素：难产、产钳分娩、负压吸引、脐带绕颈等可产生胎儿颅脑外伤，而造成智能障碍。有时婴幼儿高热、脑炎、脑膜炎等或全身感染，影响精神发育。原发性癫痫反复发作，亦可继发智能低一。
遗传及代谢因素：已证明约10%智能发育不全病人与染色体畸变有关。近新结婚,子女易发生智能发育不全。另外还约有半数病人病因不明。对有家族遗传史的母亲在妊娠14-16周进行检查，决定是否需要终止妊娠。
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